BIST（Built-in Self-Test，内建自测试）学习笔记
参考资料:
内建自测试（Built-in Self-Test，简称BIST）详解_built in self test-CSDN博客
芯片测试术语 ，片内测试(BIST)，ATE测试-CSDN博客
可能是DFT最全面的介绍--BIST - 知乎 (zhihu.com)
汽车功能安全--TC3xx LBIST触发时机讨论-CSDN博客
1. BIST定义：
BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路，用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。
2. BIST基本电路结构：
BIST 电路基本由三部分组成：
- TPG （test pattern generator）测试向量生成器
用来自动生成测试向量，灌入CUT（circuit under test）的输入引脚。
- ORA （output response analyzer）输出响应分析器
对待测电路的输出进行压缩对比，来确定电路是否有错误。
- BIST controller 内建自测试控制器
控制何时将什么样的数据用到被测电路上，控制被测电路的时钟并决定何时读取预期响应。
3.LBIST架构
TC3xx LBIST结构如下图所示：
它主要由PRPG(Pseudo-Random Pattern Generator)、Scan Chains、MISR(Multiple-Input Signature Register)、LBIST Controller组成。
LBIST执行时，首先PRPG使用LFSR(Linear Feedback Shift Register )生成伪随机测试向量，送入到扫描链进行测试，然后compactor将得到结果通过异或门进行压缩，产生最终MISR签名，送入到LBIST Controller的相关寄存器中，以便应用软件比较。
原文地址：https://blog.csdn.net/qq_42786033/article/details/143661681
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