DFT中boundary scan与其他扫描技术相比有何优势？
# 一、可测性设计（DFT）中的Boundary Scan与其他扫描技术对比下的优势
## （一）与全扫描（Full - Scan）技术相比
1. **对芯片原始设计的侵入性更小**
- **全扫描技术**
- 全扫描技术通常需要将芯片内部的所有触发器（Flip - Flop）都替换为扫描触发器，并将它们连接成一个很长的扫描链。这意味着需要对芯片的内部逻辑结构进行较大规模的修改，可能会影响芯片的原始布局和布线，并且在一些复杂的设计中，可能会引入额外的布线拥塞问题。
- **Boundary Scan技术**
- Boundary Scan主要是围绕芯片的I/O引脚设置边界扫描单元（Boundary - Scan Cells）。它不需要对芯片内部的所有逻辑进行大规模的扫描链构建。例如，在一个已经设计好的复杂芯片中，如果想要添加测试功能，采用Boundary Scan技术只需要在I/O周边进行相对独立的单元添加，对芯片内部原有的功能逻辑模块的布局和布线影响较小。
2. **测试的针对性更强**
- **全扫描技术**
- 全扫描技术主要是为了测试芯片内部的组合逻辑和时序逻辑，通过将所有触发器连接成扫描链，将测试数据串行移入和移出，以检测内部逻辑的正确性。但是这种方式可能会导致测试数据量较大，并且在测试一些与I/O相关的特定问题时不够直接。
- **Boundary Scan技术**
- Boundary Scan技术重点关注芯片的I/O接口以及与I/O相关的内部逻辑。它能够直接检测芯片I/O引脚之间的连接性，例如是否存在短路或开路情况。对于芯片与外部设备（如在电路板上芯片与其他芯片或者电路元件的连接）的连接测试，
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